SPM(AFM)으로 표면의  Topograhy(=Morphology)와 물성,전도성,자기적특성,마찰특성등을 Mapping하여 분석 하고,

  표면의  화학적 정량적 정성적 분석이 필요한 경우  Raman Spectrometer와 다양한 분석기를 결합가능한 시스템입니다.

   

  특히 AFM 팁은 TERS(Tip Enhandce Raman Scattering)방식에 의하여 Raman Spectroscopy 의 단점인 Micro크기의 레이저를

  나노크기의 레이저로  샤프하게 만듦으로써 원하는 표면 위치에 더욱 정밀한 스펙트럼 분석을 가능하게 하고, 신호증폭 기술이 이루어

  집니다. 나노입자,먼지,원자,분자들을 표면에서 선택하여 측정분석이 가능하게 됩니다.       

 즉, Micro Raman의 능력을 AFM기술을 통하여 해상도 높은 Nano Raman의 분석이 가능하게 됩니다.

   

  샘플의 종류에 따라 반사형, 투과형 Spectrocsopy 세팅이 가능합니다.